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連續(xù)光學(xué)傳遞函數(shù)測量儀為了測量傳遞函數(shù)，因連續(xù)可變的條紋間隙所產(chǎn)生的干涉圖可用作可撓光的圖靶。靶的產(chǎn)生，正弦，或方形波，或用在光學(xué)部件的躍變對于評定部件的調(diào)制傳遞函數(shù)和相位傳遞函數(shù)都是必須；光學(xué)系統(tǒng)的成像過程研究和像質(zhì)評價是光學(xué)信息處理的重要內(nèi)容。而基于頻譜分析方法和線性系統(tǒng)的光學(xué)傳遞函數(shù)，通過表征光學(xué)系統(tǒng)對不同空間頻率的目標(biāo)的傳遞性能，能客觀有效地分析整套光學(xué)系統(tǒng)的信息傳遞性能。
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